.

Předmětem dodávky je multifunkční fotoelektronový spektrometr s fokusovaným monochromatizovaným svazkem budícího roentgenového záření. Pokročilý detekční systém spolu s analyzátorem energie fotoelektronů a zobrazovací optikou musí dovolit detekovat vybuzené fotoelektrony z plochy jednotek um2, s energetickým rozlišením ≤ 0.6 eV a musí umožnit provádění chemické mapy rozložení prvků na povrchu analyzované oblasti. Součástí elektrooptického systému musí být zařízení pro kompenzaci povrchového náboje. Spektrometr musí být vybaven iontovým zdrojem klastrových Ar+ iontů, který bude používán k měření hloubkových koncentračních profilů. Dále je v dodávce požadována vkládací (preparační) komora, na níž budou přivařeny příruby pro připojení zařízení k získání dodatečných informací o vlastnostech povrchu zkoumaných vzorků. Fotoelektronový spektrometr bude používán k charakterizaci a měření hloubkových koncentračních profilů pevných látek (včetně izolátorů) a organických materiálů.